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產(chǎn)品名稱:EPK涂鍍層測厚儀

產(chǎn)品型號:MINITEST 2100

更新時間:2024-11-27

產(chǎn)品特點:MINITEST 2100 EPK涂鍍層測厚儀用于測量以下覆層(覆層包括涂層,鍍層等):鋼鐵基體上的非磁性覆層
,有色金屬上的絕緣覆層,絕緣基體上的有色金屬覆層,所有型號均可配所有探頭;可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;可使用一片或二片標準箔校準。

MINITEST 2100EPK涂鍍層測厚儀的詳細資料:

MINITEST 2100 EPK涂鍍層測厚儀

MINITEST 2100 EPK涂鍍層測厚儀用于測量以下覆層(覆層包括涂層,鍍層等):

鋼鐵基體上的非磁性覆層

有色金屬上的絕緣覆層

絕緣基體上的有色金屬覆層

所有型號均可配所有探頭;

可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;

可使用一片或二片標準箔校準

 

 

 

 MINITEST 2100 EPK涂鍍層測厚儀功能 

MINITEST 2100存儲的數(shù)據(jù)量

應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))            1           

每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計,并可設(shè)寬容度極限值)  1

可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù)           1           

數(shù)據(jù)總量              10000           

MINITEST2100統(tǒng)計計算功能

讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar                        

顯示并打印測量值、打印的日期和時間                     

其他功能

透過涂層進行校準(CTC)                      

在粗糙表面上作平均零校準                        

利用計算機進行基礎(chǔ)校準                     

外設(shè)的讀值傳輸存儲功能                     

保護并鎖定校準設(shè)置                         

更換電池是存儲數(shù)值                         

公英制轉(zhuǎn)換                                      

浮點和定點方式數(shù)據(jù)傳送                     

組內(nèi)單值延遲顯示                                

連續(xù)測量模式中顯示zui小值                        

 

MINITEST 2100 EPK涂鍍層測厚儀可選探頭參數(shù)(探頭圖示):

在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層 
FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

探頭

量程

低端
分辨率

誤差

zui小曲率
半徑(/)

zui小測量
區(qū)域直徑

zui小基
體厚度

探頭尺寸



應(yīng)

F05

0-500μm

0.1μm

±(1%±0.7μm)

1/5mm

3mm

0.2mm

φ15x62mm

F1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

F3

0-3000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F10

0-10mm

5μm

±(1%±10μm)

5/16mm

20mm

1mm

φ25x46mm

F20

0-20mm

10μm

±(1%±10μm)

10/30mm

40mm

2mm

φ40x66mm

F50

0-50mm

10μm

±(3%±50μm)

50/200mm

300mm

2mm

φ45x70mm


FN1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm
N50μm

φ15x62mm

FN1.6P

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面

30mm

F0.5mm
N50μm

φ21x89mm

FN2

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm
N50μm

φ15x62mm




N02

0-200μm

0.1μm

±(1%±0.5μm)

1/10mm

2mm

50μm

φ16x70mm

N.08Cr

0-80μm

0.1μm

±(1%±1μm)

2.5mm

2mm

100μm

φ15x62mm

N1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

2mm

50μm

φ15x62mm

N1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x13x170mm

N10

0-10mm

10μm

±(1%±25μm)

25/100mm

50mm

50μm

φ60x50mm

N20

0-20mm

10μm

±(1%±50μm)

25/100mm

70mm

50μm

φ65x75mm

N100

0-100mm

100μm

±(1%±0.3mm)

100mm/平面

200mm

50μm

φ126x155mm

CN02

10-200μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面

7mm

無限制

φ17x80mm

 

注: F1.6/90、F2/90N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測量。

N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。

CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

 

MINITEST 2100 EPK涂鍍層測厚儀探頭圖示

FN1.6

01600μm,φ5mm

兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層

量程低端分辨率很高(0.1μm)

 

 

FN1.6P

01600μm,φ30mm

兩用測頭, 特別適合測粉末狀的覆層厚度

 

 

F05

0500μm,φ3mm

磁性測頭,適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等

量程低端分辨宰很高(0.1μm)

 

F1.6

01600μm,φ5mm

磁性測頭

量程低端分辨率很高(0.1μm)

 

F3

03000μm,φ5mm

磁性測頭

可用于較厚的覆層

 

F1.6/90

01600μm,φ5mm

90度磁性測頭

尤其適合于在管內(nèi)壁測量

量程低端分辨率很高(0.1μm)

 

F10

010mm,φ20mm

適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等

 

 

F20

020mm,φ40mm

適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等

 

F50

050mm,φ300mm

適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層

 

N02

0200μm,φ2mm

非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層

量程低端分辨率很高(0.1μm)

 

 

N0.8Cr

080μm,φ2mm

適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層

 

N1.6

01600μm,φ2mm

非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層

量程低端分辨率很高(0.1μm)

 

N1.6/90

01600μm,φ5mm

磁性測頭,適于測量較薄的絕緣覆層

尤其適合在管內(nèi)壁測量

量程低端分辨率很高(0.1μm)

 

N10

010mm,φ50mm

非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

 

 

N20

020mm,φ70mm

非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

 

N100

0100mm,200mm

非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

 

CN02

10200μm,φ7mm

用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板

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